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太陽能電池研發(fā)與質(zhì)量控制用太陽光譜儀S-2440 II
S-2440 II型主要用于測量太陽光模擬器的輻射光譜(包括脈沖光和穩(wěn)定光),并評(píng)估其與標(biāo)準(zhǔn)日照光譜的匹配度。其設(shè)計(jì)緊湊、成本低且雜散光少,適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)場景中的太陽能電池研發(fā)與質(zhì)量控制。
寬波長范圍與高靈敏度
測量波長覆蓋300-1100 nm,適配硅基、染料敏化及有機(jī)薄膜太陽能電池的光譜需求。
采用高靈敏度探測器和優(yōu)化光譜儀設(shè)計(jì),在紫外-近紅外波段具有更高的信噪比(SN)。
動(dòng)態(tài)測量能力
脈沖光跟蹤:每1毫秒連續(xù)跟蹤光譜變化,支持事件觸發(fā)模式,可同步捕捉脈沖光發(fā)光前后的波形演變。
曝光時(shí)間調(diào)節(jié):接觸時(shí)間范圍為1-1,000毫秒,滿足不同光源的測量需求。
光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
反射擴(kuò)散器采用PTFE材料,具備優(yōu)異余弦特性(擴(kuò)散均勻性)和高耐久性,適合長期使用35。
光纖與反射擴(kuò)散器一體化設(shè)計(jì)(不可拆卸),需在更換時(shí)重新校準(zhǔn)。
太陽能電池評(píng)估
測量太陽模擬器的光譜輻照度(μW/cm2/nm),判斷其是否符合JIS、IEC、ASTM等國際標(biāo)準(zhǔn)(如IEC 60904-9、ASTM AM1.5-2009)。
支持多類型電池測試,包括晶體硅、非晶硅及多結(jié)太陽能電池。
光源分析與環(huán)境監(jiān)測
自然陽光光譜測量、實(shí)驗(yàn)室恒定光源/脈沖光源的輻射特性分析。
脈沖光同步技術(shù)
新增事件觸發(fā)模式,通過光電二極管檢測脈沖信號(hào),支持在任意時(shí)間點(diǎn)提取數(shù)據(jù),突破傳統(tǒng)設(shè)備僅能獲取脈沖后數(shù)據(jù)的限制。
抗干擾與穩(wěn)定性
新開發(fā)電路板降低溫度依賴性及噪聲水平,提升長期測量穩(wěn)定性。
16位AD轉(zhuǎn)換電路確保高精度數(shù)據(jù)采集。
操作便捷性
配套軟件支持光譜輻照度計(jì)算、匹配度判斷及數(shù)據(jù)導(dǎo)出(CSV格式,每1 nm輸出一次數(shù)據(jù))。
支持Windows 7/Vista系統(tǒng)(日語版),需用戶自備PC。
基礎(chǔ)配置:光譜儀主機(jī)、專用軟件、USB線、帶反射擴(kuò)散器的光纖(1.0m)、交流適配器及收納箱。
可選配件:標(biāo)準(zhǔn)光源單元、反射擴(kuò)散板固定單元(用于向上照射型太陽模擬器)。
環(huán)境要求:工作溫度10-35°C,濕度≤80%(無冷凝)。
兼容性限制:僅支持日語版Windows系統(tǒng),可能需額外配置語言環(huán)境。
維護(hù)校準(zhǔn):更換光纖或反射器時(shí)需重新校準(zhǔn),以確保測量精度。
S-2440 II型憑借其寬波長覆蓋、高動(dòng)態(tài)響應(yīng)及標(biāo)準(zhǔn)化支持,成為太陽能電池研發(fā)和光源檢測的高效工具。其針對(duì)脈沖光優(yōu)化的同步測量技術(shù)和低噪聲設(shè)計(jì),尤其適用于高精度實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)檢測場景。用戶需注意系統(tǒng)兼容性和維護(hù)要求以發(fā)揮其最佳性能。